155657
Brak okładki
Książka
W koszyku
Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych / red. Bolesław Niemierko ; współred. Janina Sygniewicz, Wojciech Walczak. - Łódź : Wyższa Szkoła Humanistyczno-Ekonomiczna, 2003. - 395 s. : mapy, rys., tab., wykr. ; 24 cm.
Autor
Niemierko Bolesław (1935- ) Red. Sygniewicz Janina. Współred. Walczak Wojciech (1959- ). Współred.
Temat
Egzaminy szkolne Oceny szkolne Materiały konferencyjne
zob. w.bibliotece.pl
Status dostępności:
Wypożyczalnia Opoczno
Są egzemplarze dostępne do wypożyczenia: sygn. 28240 (1 egz.)
Strefa uwag:
Uwaga ogólna
U dołu okł.: IX Krajowa Konferencja z cyklu Diagnostyka Edukacyjna, Łódź 24-26 września 2003 roku.
Tekst częśc. ang.
Recenzje:
Potwierdź wykonanie raportu
Wyprowadzać dodatkowo:
sygnatury
identyfikatory
hasła przedmiotowe
lokalizacja
streszczenia
numer ISBN
hasło sortowania
adres wersji elektronicznej
rozmieszczenie egzemplarzy
opis fizyczny
Sortowanie zestawienia:
Sortowanie pozycji zestawienia:
Sortowanie pozycji zestawienia:
Pozycja została dodana do koszyka. Jeśli nie wiesz, do czego służy koszyk, kliknij tutaj, aby poznać szczegóły.
Nie pokazuj tego więcej